GHT-G-絕緣材料體積表面積電阻率測試儀
一.GHT-G-絕緣材料體積表面積電阻率測試儀概況：
(1)適用標準：GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；EN 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與標準IEC93-1980等效）；FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產品制造與應用系統防靜電檢測通用規范》6.1及ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》要求制作。 GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導電性能和耗散性能電阻率的測定》；GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》 ；GB/T 1692-2008 《硫化橡膠絕緣電阻率的測定》；GB/T 12703.4-2010 《紡織品靜電性能的評定 第４部分：電阻率》
GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》。
二.適用范圍：
適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。
三.絕緣材料體積電阻率測試儀特點：
本儀器既可測量超高電阻，又可測極微弱電流。采用了大規模集成電路以及新的技 術，使儀器體積小、重量輕、準確度高。以數字液晶顯示電阻并同時直接顯示流過被測電阻的電流。電阻量程從1×104Ω ～1×1018Ω，電流測量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A。機內測試電壓為DC0-1000v無極可調
四.絕緣材料體積電阻率測試儀主要參數：
1.電阻測量范圍：0.01×104Ω ～1×1018Ω，
2.電流測量范圍: 2×10-4A～1×10-16A，
3.顯示方式：觸摸屏顯示
4.內置測試電壓：0-1000v
5.基本準確度：準確度優于國家標準（詳見GBT3048.5-2007標準要求）
量程 | 有效顯示范圍 | 20～30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01～19.99 | 2% |
106 | 0.01～19.99 | 3% |
107 | 0.01～19.99 | 4% |
108 | 0.01～19.99 | 5% |
109 | 0.01～19.99 | 5% |
1010 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01～19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01～19.99 | 10-15%+5字 |
6.使用環境: 溫度：0℃～40℃，相對濕度<80%
7.機內測試電壓: 0-1000v 任意切換
8.供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約10W
絕緣材料體積電阻率測試儀工作特點：
根據歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也會有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。
本臺電阻率測試儀是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結果經過A/D轉換后以數字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發生變化對其結果影響不大，其測量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零，而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。
售后服務：
山西冠恒精電儀器設備有限公司是集專業設計、開發、生產與銷售于一體的技術股份制企業，專注于新型材料試驗機的研制、材料檢測技術的提高及材料試驗方法的創新，是國內的材料試驗檢測儀器的生產企業。
我們承諾在接到客戶問題反饋3小時，給出相應解決方法、如遇到需要上門服務時，會根據客戶要求上門服務。本儀器質保1年，在質保期內，除人為因素原因，不可抗拒的環境因素外，維修免費。并且可根據客戶反饋信息進行儀器升級，儀器升級后新老客戶可申請已舊換新業務，具體電聯可詳談，本公司對上訴有*終解釋權。
影響電阻的因素一．環境因素的影響環境因素是指產生點陣畸變的外界條件，主要指溫度和應力。(一)溫度的影響若認為導電電子是*自由的，而原子的振動彼此無關，則電子的平均自由程與晶格振動的振幅平方的平均值成反比。由于與溫度成正比，所以ρ∝T。在理想完整的晶體中，電子的散射只取決于溫度所造成的點陣動畸變，即金屬的電阻取決于離子的熱振動。當溫度高于時，純金屬的電阻和溫度成正比。（2—9）式中α為電阻溫度系數，過渡族金屬，特別是鐵磁金屬的α值較大，約為10-2數量級，其它金屬α值均為10-3數量級；表示溫度變化△T時ρ的變化。若考慮振動原子與導電電子間的相互作用，用量子力學方法可以獲得低溫下(低于)電阻的表達式，為（2—10）式中A為系數，為積分變數。低溫時，積分值趨于常數124.4，因此，。它類似于比熱容的德拜三次方定律。式(2—11)也稱格留乃申定律。的關系對于多數金屬都適用。對于過渡族金屬則(n為2.0一5.3)。一般金屬，當溫度接近0 K時，仍有殘留電阻。但有些金屬，例如Ti、V、Nb、Zr、Al等，當溫度低于某臨界值時電阻下降為零，它們被稱為超導金屬。金屬溶化時，由于點陣規律性遭到破壞及原子間結合力的變化，熔點(Tm)處液態金屬的電阻比固態約大一倍。除Ga、Hg、Sb、Bi外，大多數金屬熔化時電阻的躍變可通過式(2—11)計算( )Tm=exp(KtLmTm) （2—11）式中Lm為熔化潛熱(kJ／mol)；ρL和ρS分別為Tm處液態和固態的電阻率；K1為系數，其值為80kJ-1·mol·K-1。(二)應力的影響彈性范圍內的單向拉應力，能使原子間的距離增大，點陣的動畸變增大，由此導致金屬的電阻增大。電阻率與應力之間有如下的關系（2—12）式中ρT為受拉應力作用下的電阻率；ρ0為未加負荷時的電阻率；αT為應力系數；σ為拉應力。鐵在室溫下的應力系數αT約為2.11—2.13×10-11Pa-1。壓力對電阻的影響恰好與拉應力相反，由于壓力能使原子間距變小，點陣動畸變減小，大多數金屬在三向壓力（低于1200MPa)的作用下，電阻率都下降，并且有如下的關系（2—13）式中為三向拉力下的電阻率；為真空下的電阻率；p為壓力；φ為壓力系數，是負值。二、組織結構的影響組織結構是影響電阻的內部因素，金屬及合金的結構取決于塑性形變及熱處理工藝。(一)塑性形變的影響形變使金屬的電阻增大。鋁、鋼、鐵、銀和其它一些金屬在具有顯著的加工硬化時，它們的電阻率增加約2—6％，只有鎢是例外，大量擠壓之后，電阻可增大百分之幾十。金屬經過塑性形變使電阻增大的原因是由于形變使點陣產生缺陷和畸變，導致電子波的散射增強；此外，冷加工也可能引起原子間的結合性質發生變化，從而對電阻產生影響。如果用ρ0表示未經加工硬化金屬的電阻率，△ρ表示加工硬化產生的附加電阻率，金屬加工硬化后的電阻率ρ＝ρ0+△ρ。從電阻和溫度的關系可知，當溫度降低時ρ0減小，在0k時趨近于零。附加電阻△ρ只受加工程度的影響，與溫度無關，即便是溫度為0k時它仍然存在，故稱為殘留電阻?！鳓眩央S溫度降低而增大，所以用低溫測量電阻的方法研究加工硬化是很合適的。形變金屬的電阻增大與形變量及形變溫度有關。鉭絲經扭轉形變，△ρ／ρ0和扭轉形變量的關系如圖2—5所示。于77K和298K測量的結果表明，電阻隨形變量增大而增大；并且形變溫度愈低，電阻增加得就愈快。從圖2—5可以看到電阻的變化反映了形變強化的一般規律。圖2-5 鉭絲電阻的相對變化和扭轉形變的關系(二)熱處理的影響形變和應力都能破壞周期場的規整性，使電阻增大，若對加工硬化的金屬進行退火，使它產生回復和再結晶，電阻就必然下降。例如，純鐵經過加工硬化之后，進行100℃退火處理，電阻便有明顯地降低。如要進行520℃退火，電阻便恢復到加工前的水平。但當退火溫度高于再結晶溫度時，由于再結晶生成的新晶粒很細小，所以晶界較多，晶界是一種面缺陷，因此電阻反而有所增高。
上一篇：50電壓擊穿試驗儀產品使用
下一篇：電阻率測試儀的作用你了解多少？
在線客服1號